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直徑40試驗探棒符合IEC60335-2-14：20.103、GB4706-30：20.103等標(biāo)準(zhǔn)條款要求，直徑:40㎜，末端為半球形。

直徑3試驗探針廠家直供：ZLT-P05A符合IEC60884：24.11及GB2099：24.11標(biāo)準(zhǔn)條款要求，用于對移動式插座用于懸掛到墻壁上的空間與帶電部件之間的隔層進行機械應(yīng)力試驗。

直徑3試驗探針符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于對操作微波爐的隱蔽的門聯(lián)鎖裝置。

試具探針：ZLT-P04符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等標(biāo)準(zhǔn)條款要求。

劃痕工具，IEC60335圖102：符合GB4706.13圖102等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于對家電中所有受保護冷卻系統(tǒng)的易觸及元件表面，包括與受保護冷卻系統(tǒng)緊密接觸的易觸及表面進行刮擦試驗。

直徑8試驗探棒符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等標(biāo)準(zhǔn)條款要求，直徑:8㎜，長:80㎜，配手柄。

試驗探頭，通訊端測試棒符合IEC60950圖2C、GB4943圖2C、IEC60065、GB8898等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于對信息技術(shù)設(shè)備的TNV電路的裸露部件是否有足夠的保護。

帶推力試驗探針符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于對帶保護門的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗。

帶推力試驗探針：ZLT-I20符合GB2099-2008圖9、IEC60884圖9等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于檢驗帶保護門的插座的帶電部件是否觸及。

試驗鉤，IEC60065圖4 ZLT-I18符合GB8898圖4、IEC60065圖4等標(biāo)準(zhǔn)要求，用于檢驗危險帶電零部件是否被觸及。